仪器设备基本信息 | ||
设备名称: | 近场微波暗室 |
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仪器型号: | 近场微波暗室 | |
联系单位: | 航天恒星空间技术应用有限公司 | |
所属类别: | 电子测量仪器(射频和微波测试仪器,其他),计量仪器(其他),工程试验设备(其他) | |
设备原值: | ||
制造厂商: | ||
生产国别: | ||
购置日期: | ||
服务方式: | 对外服务 | |
仪器设备详细指标 | ||
主要技术指标: | 1)暗室尺寸 : 15m×8m×7m(长×宽×高) 2)屏蔽性能:≥100dB 3)被测天线口径:≤4米 4)工作频段:1GHz~40GHz(可扩展至100GHz) 5)极化方式:线极化和圆极化 6)测试精度:天线增益误差:<0.3dB 天线副瓣电平误差:<0.5dB(<-15dB)<0.8dB (<-30dB) <2.0dB(<-45dB) 交叉极化电平误差:<1.0dB (>35dB) | |
功能/应用范围: | ||
服务领域: | 电子/信息技术,航空/航天,其它 | |
技术特色: | 天线近场扫描测试技术是一个特性已知的探头在待测天线近场区扫描,在每个采样 点处测量两个正交的幅度和相位分布,通过近场/远场变换,确定待测天线远场特性的一种间接测试技术。 | |
联系方式 | ||
联系人: | 王志阳 | |
联系方式: | 17600599977 | |