| 仪器设备基本信息 | ||
| 设备名称： | X射线光电子能谱仪 |
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| 仪器型号： | Customized XPS | |
| 所属企业： | 陕西师范大学物理学与信息技术学 | |
| 所属类别： | 分析仪器(显微镜及图像分析仪器) | |
| 设备原值： | 397.2 | |
| 制造厂商： | SPECS Surface Nano Analysis GmbH | |
| 生产国别： | ||
| 购置日期： | ||
| 服务方式： | 对外服务 | |
| 仪器设备详细指标 | ||
| 主要技术指标： | 整套系统具备单色化 XPS、成像 XPS、离子深度刻蚀枪； UPS 紫外光电子能谱分析功能 He I 灵敏度 Ag4d 在 2Mcps 能量分辨率能达到 140meV；能量扫描范围 0～2400eV；通过能范围 1～320eV，分档或连续可调；单色化 X 射线源最小能量分辨率 0.48eV；能量分辨率和灵敏度：当 Ag3d5/2 峰半高宽为 1.0eV，计数率强度高于 2Mcps；成像 XPS：可实现扫描成像或快速平行成像。 | |
| 功能/应用范围： | X 射线光电子能谱仪主要适用于粉末、薄膜等材料的表面几个原子层（1~10 纳米厚的表面）的化学组成、价态，深度剖析及成像分析。 | |
| 服务领域： | 化工/化纤 | |
| 技术特色： | ||
| 联系方式 | ||
| 联系人： | 高健智 | |
| 联系方式： | 18220877149 | |
