| 仪器设备基本信息 | ||
| 设备名称: | 透射电子显微镜 |   | 
| 仪器型号: | Tecnai G2 F30 | |
| 所属企业: | ||
| 所属类别: | 分析仪器(分析仪器其他)|,,,分析仪器其他,,, | |
| 设备原值: | 12.6 | |
| 制造厂商: | ||
| 生产国别: | ||
| 购置日期: | ||
| 服务方式: | 对外服务 | |
| 仪器设备详细指标 | ||
| 主要技术指标: | 热场发射电子枪能量色散度:≤ 0.8eV 放大倍数:60x – 1000 kx;STEM放大倍数:150x – 230 Mx 点分辨率:0.20nm;线分辨率:0.102nm;信息分辨率:0.14nm;STEM HAADF分辨率:0.17nm;加速电压:300 kV, 连续可调 | |
| 功能/应用范围: | 材料微观组织的形态、晶体结构、成分等分析。主要功能有:明场、暗场形貌像,高分辨像,Z衬度高分辨像,选区衍射,会聚束衍射,微衍射,能谱仪成份分析,电子能量损失谱,电子能量过滤,原位拉伸,原位拉伸,三维重构,旋进电子衍射,位向成像,纳米织构分析等。 | |
| 服务领域: | 其它, | |
| 技术特色: | ||
| 联系方式 | ||
| 联系人: | 傅茂森,黄斌 | |
| 联系方式: | 029-88493450-8003 | |