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| 设备名称： |
X射线光电子能谱仪 |
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| 仪器型号： |
AXIS ULTRA |
| 所属企业： |
西安理工大学 |
| 所属类别： |
分析仪器(X射线仪器,光谱仪器)|,,,X射线仪器,光谱仪器,,, |
| 设备原值： |
747.3 |
| 制造厂商： |
英国KRATOS ANALYTICAL |
| 生产国别： |
英国 |
| 购置日期： |
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| 服务方式： |
对外服务 |
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| 主要技术指标： |
XPS可进行表面层（深度1~3 nm）的大面积 (0.8×2mm)或选区（最小选区15μm）组分分析，其成像XPS 的空间分辨率<3μm；AES的表面层分析深度更浅，为0.5~2.5 nm。 |
| 功能/应用范围： |
利用X射线光电子能谱术（XPS）或俄歇能谱术（AES）定量分析材料的组分及其组成元素的化学状态。该二合一分析仪器通过对样品同一区域的收谱和成像，反映其表面层的组分及其分布以及组分在表面以下随深度的变化。 |
| 服务领域： |
石油/石化,地质/矿产,矿业/冶金,钢铁/有色金属,非金属/珠宝,橡胶/塑料(材料), |
| 技术特色： |
仪器装备有Mg/Al双阳极X射线源，Al靶单色化的X射线源，LB6灯丝电子枪，离子枪，电荷中和系统，XYZq四维方向运动带变温样品台（-150℃~600℃），CCD成像系统等。 |
| 联系人： |
李老师 |
| 联系方式： |
82312782-8109 |
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