| 仪器设备基本信息 | ||
| 设备名称： | 高分辨透射电子显微镜 |
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| 仪器型号： | JEM-3010 | |
| 所属企业： | 西安理工大学-现代分析测试中心 | |
| 所属类别： | 分析仪器(显微镜及图像分析仪器)|,,,显微镜及图像分析仪器,,, | |
| 设备原值： | 481.6 | |
| 制造厂商： | 日本电子 | |
| 生产国别： | 日本 | |
| 购置日期： | ||
| 服务方式： | 对外服务 | |
| 仪器设备详细指标 | ||
| 主要技术指标： | 点分辨率达0.17nm，最高放大倍数150万倍 | |
| 功能/应用范围： | 纳米材料、金属与合金、半导体、陶瓷矿物、高分子、生物等样品的常规显微图像观察，直至原子尺度的结构像，同时还可对纳米尺度微区的物质进行晶体结构和晶体缺陷分析 | |
| 服务领域： | 钢铁/有色金属,非金属/珠宝, | |
| 技术特色： | 300KV加速电压 | |
| 联系方式 | ||
| 联系人： | 雷老师 | |
| 联系方式： | 82312782-8108 | |
