| 仪器设备基本信息 | ||
| 设备名称： | 电子探针分析仪 |
|
| 仪器型号： | JXA-8230 | |
| 所属企业： | 西安地质矿产研究所 | |
| 所属类别： | 分析仪器(电子光学仪器)|,,,电子光学仪器,,, | |
| 设备原值： | 380 | |
| 制造厂商： | 日本电子公司 | |
| 生产国别： | 日本 | |
| 购置日期： | ||
| 服务方式： | 对外服务 | |
| 仪器设备详细指标 | ||
| 主要技术指标： | 对5-92号元素组成样品进行定量分析，线扫描面扫描。波长范围0.087～9.3nm定量分析检测极限100ppm。二次电子像分辨率为6nm背散射电子像分辨率为20nm。 | |
| 功能/应用范围： | 地质与矿物、陶瓷与玻璃、金属材料与复合材料、金属材料腐蚀、涂层与薄膜、贵金属宝玉石与青铜器、文物保护、阴极发光、医学多方面的形貌图像与成分分析。 | |
| 服务领域： | 地质/矿产,矿业/冶金,钢铁/有色金属,医疗/卫生,环保/水利/气象/天文, | |
| 技术特色： | 微区定量成分分析，线扫描及面扫描与相分析，阴极发光成像。 | |
| 联系方式 | ||
| 联系人： | 唐南安 | |
| 联系方式： | 13609161948 | |
