| 仪器设备基本信息 | ||
| 设备名称： | 冷场发射扫描电子显微镜 |
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| 仪器型号： | JSM-7500F | |
| 所属企业： | 中国地质调查局西安地质调查中心 | |
| 所属类别： | 分析仪器(电子光学仪器)|,,,电子光学仪器,,, | |
| 设备原值： | 340 | |
| 制造厂商： | 日本电子 | |
| 生产国别： | 日本 | |
| 购置日期： | ||
| 服务方式： | 对外服务 | |
| 仪器设备详细指标 | ||
| 主要技术指标： | 分辨率：1.0nm(15kV),1.4nm(1kV); 加速电压：0.1kV～30kV; 放大倍数：25～100万倍; 束流强度：10-13～2×10-9; 样品室尺寸：最大200mm直径 | |
| 功能/应用范围： | 可对金属、陶瓷、纳米材料、矿物、岩石、生物等样品以及各种固体材料进行表面形貌观察与成分分析 | |
| 服务领域： | 石油/石化,地质/矿产,矿业/冶金,钢铁/有色金属,非金属/珠宝,橡胶/塑料(材料),航空/航天,电子/信息技术, | |
| 技术特色： | 分辨率极高、图像稳定性好、具备Gentle Beam(柔和电子束)功能 | |
| 联系方式 | ||
| 联系人： | 魏小燕 | |
| 联系方式： | 13772546295 | |
